Все о рентгене

Дифракция рентгеновских лучей (XRD) является одним из наиболее важных неразрушающих инструментов для анализа всех видов вещества - от жидкостей до порошков и кристаллов. От исследований до производства и машиностроения, XRD является незаменимым методом характеристики материалов и контроля качества. Компания Технолаб разработала ряд рентгеновских дифрактометров в сотрудничестве с академическими и промышленными пользователями, которые предоставляют наиболее технически совершенные, универсальные и экономичные дифракционные решения, доступные сегодня.

Использование рентгеновых методов

Методы рентгеновской дифракции используются для идентификации кристаллических фаз различных материалов и количественного фазового анализа после идентификации. Методы дифракции рентгеновских лучей превосходны в выяснении трехмерной атомной структуры кристаллических твердых веществ. Свойства и функции материалов в значительной степени зависят от кристаллических структур. Поэтому методы дифракции рентгеновских лучей широко используются в качестве незаменимого средства при исследовании, разработке и производстве материалов.

Анализ рентгена в уравнении Брэгга

Уравнение Брэгга, nλ = 2dsinθ, является одним из ключевых в понимании дифракции рентгеновских лучей. В этом уравнении:

· n - целое число,

· λ - характерная длина волны рентгеновских лучей, падающих на кристаллизующийся образец,

· d межплоскостное расстояние между рядами атомов,

· а θ - угол пучка рентгеновских лучей относительно этих плоскостей.

Когда это уравнение выполнено, рентгеновские лучи, рассеянные атомами в плоскости периодической структуры, находятся в фазе, и дифракция происходит в направлении, определяемом углом θ. В простейшем случае эксперимент по дифракции рентгеновских лучей состоит из набора дифрагированных интенсивностей и углов, под которыми они наблюдаются. Эту дифракционную картину можно рассматривать как химический отпечаток пальца, где химическая идентификация может быть выполнена путем сравнения этой дифракционной картины с базой данных доступных образцов.